Dr. Thomas H. Schramm

Dipl.-Phys. | Dr. rer. nat. | Patentanwaltskandidat

Tätigkeitsgebiete

Physikalische Technik; Mess-, Steuerungs- und Automatisierungstechnik; Elektrotechnik; Optik und Lasertechnik; Datenverarbeitung und Programmierung; Nanotechnologie; Ionenoptiken; Vakuumtechnik; Oberflächenphysik

Sprachen:
Deutsch, Englisch

Beruflicher Werdegang
seit 2014 Patentanwaltskandidat bei KEIL & SCHAAFHAUSEN
2010–2014 Promotion im Fachbereich Physik an der Universität Konstanz
2004–2010 Studium der Physik an der Universität Würzburg

 

Zur Person

Geboren 1983 in Aschaffenburg

Thomas Schramm studierte Physik mit den Nebenfächern Informatik, Computational Physics und Geophysik an der Julius-Maximilians Universität Würzburg. Während seines Studiums absolvierte er einen mehrmonatigen Forschungsaufenthalt an der Texas Tech University in Lubbock, Texas bei dem er optische Messungen an Hochspannungsüberschlägen entlang dielektrischer Oberflächen untersuchte. Während seiner Diplomarbeit befasste er sich mit niedrigdimensionalen Elektronensystemen an Halbleiteroberflächen. In seiner Dissertation entwickelte er ein neues Messinstrument zur Untersuchung von Nanoteilchen am Synchrotron Swiss Light Source des Paul-Scherrer Instituts in Villigen, Schweiz.